接触式测头：需要和被测表面发生实体接触的探测系统。
非接触式测头：不需要和被测表面发生实体接触的探测系统，如光学探测系统。
触发测头的特点
扫描测头的特点
接触式触发测头及原理
探针接触被测物体，与物体接触的力通过测头内部的弹簧来平衡，测针绕测头内部支点转动，造成一个或两个节点断开，是接触面积减小，电阻增加，当电阻到达触发阈值时，测头发出触发信号。
常用接触式触发测头主要包括：机械式触发测头（TP20）、应变片式触发测头（TP200）、压电陶瓷触发测头（TP800）。
应变片式触发测头
测头精度高于标准的机械测头，有小的预行程变化量，触发寿命高于一千万次，测针更长、可与机动测座和加长杆兼容、可自动测针交换。如TP200。
压电陶瓷触发测头
利用压电陶瓷片感受测针接触零件的压力波而触发，不需要触点的机械通断，超高精度、极小的预行程三角形效应，要求测量机有极高的平稳性，否则易于误发信号。如TP800。
接触式扫描测头及原理
扫描测头的主要误差：在扫描过程中，测头在大多数情况下总是沿着曲面表面运动，即使速度的大小不变亦存在着运动方向的改变，因而总存在加速度及惯性力，使得测量机发生变形，测头也在变负荷下工作，由此而导致测量的误差。