【发布时间】:2023-03-30 23:51:01
【问题描述】:
我的被测设备 (DUT) 有许多子模块,我想测试其中的一些。
我的测试夹具将是我项目的顶层 - 比 DUT 高一级 - 由于我似乎只能访问下一层模块的输入和输出,因此我只能访问顶级输入和 DUT 的输出。
我希望能够访问来自测试夹具下两个或多个级别的模块的信号,理想情况下无需重写任何模块以添加更多输出,因此我想要测试的信号连接到顶层。
我可以重写被测设备,但这似乎很耗时,我觉得应该有更快的方法。
有没有办法编写一个可以访问子模块内信号的测试夹具,而无需重写 DUT?
【问题讨论】:
标签: verilog test-bench