EDT：Embedded Deterministic Test。
包括的逻辑：Decompressor和Compactor
Masking logic
Addictional shift cycle(initialization, masking, lower-power bits)
Lockup cells和pipeline stages
在ATPG部分可以做的compression
1)Standard techniques
Static compression-----------移除一些redundant patterns
Dynamic compression--------在同一个pattern中，测试几个faults targets
2)Advanced ATPG
Multi-clock compression
Domain analysis
Algorithm enhancements
Optimized pattern orders
EDT通过对ATPG产生的Deterministic pattern的并行化处理，来处理。
EDT推荐更短的scan chain，更少的shift cycle
操作波形：
lock_up cell的插入：
1)保证shift 操作的正确性，一个cycle 一个data
2)在其他的操作中，可以节约一个clock cycle，因为它用的下降沿。