Android两个常用且强大的测试方法

Andorid上两个非常强大的测试方法：

一、hprof + MAT  + eclipse：

　　这个主要用来测试内存泄露。方法是使用DDMS的Dump HPROF File生成hprof文件，再用hprof-conv工具转换成MAT能识别的文件，最后用MAT打开。

 

二、Debug类 + traceview：

　　该方法主要用来测试时间性能。在代码中加入如下内容：

1 Debug.startMethodTracing("aaaa");//在sdcard下生成aaaa.trace文件
2 //.....要测试的内容
3 Debug.stopMethodTracing();

　　拿到生成的trace文件后，用traceview打开，如下图：

 

界面中的参数大意如下：

 

<上面的面板>

 

mesc ：运行的时间，毫秒

 

<下面的面板>

 

Name ：列出的是所有的调用项，前面的数字是编号，展开可以看到有的有Parent 和Children子项，就是指被调用和调用。

 

Incl : inclusive时间占总时间的白分比

 

inclusive : 调用占用时间。（包括了所有的子方法的调用时间）

 

Excl : 执行占总时间的白分比。

 

Exclusive : 执行时间，不包含子方法的时间。

 

Calls+Recur Calls/Total : 调用和重复调用的次数

 

Time/Call : 总的时间。(ms)