高端与低端电流检测电路如下图所示。
其实根本的原因就是运放的Vos的影响,当低端检测时随着采样电阻Rs的增大,在运放上的输入电压就会增大,那么Vos固定,输入增大,那么Vos对输出误差的影响就会更小,曲线上面的Vos的那条,但是这样会使Rs上面的功耗增大,采样电阻的尺寸也会变大,那么这种问题对高端电流检测就基本上不存在,所以当可选择的运放失调电压较大的时候是不能选择低端检测的方式。
高端与低端电流检测电路如下图所示。
其实根本的原因就是运放的Vos的影响,当低端检测时随着采样电阻Rs的增大,在运放上的输入电压就会增大,那么Vos固定,输入增大,那么Vos对输出误差的影响就会更小,曲线上面的Vos的那条,但是这样会使Rs上面的功耗增大,采样电阻的尺寸也会变大,那么这种问题对高端电流检测就基本上不存在,所以当可选择的运放失调电压较大的时候是不能选择低端检测的方式。
相关文章: