摄像头测试-DefectLine

DefectLine，缺陷线条。有些也称之为FixedPatternNoise。由于sensor制造时不一致产生。

目的

检测缺陷线条，找出其所在行列位置。

测试方法

这里分为R,Gr,Gb,B四通道进行计算，分别计算单通道缺陷情况。

1. 获取每行列均值colMeans，行列方差colStd，rowStd；
   

2. colMeans，colStd与[0.5 0 0.5]做卷积运算，得到周围状态值colMeans_avg，colStd_avg； rowMeans，rowStd与[0.5 0 0.5]做卷积运算，得到周围状态值rowMeans_avg，rowStd_avg

3. 计算水平方向缺陷率line_v_avg，line_v_std；计算竖直方向缺陷率line_h_avg，line_h_std；
   方法：line_*_avg = 100 * abs( *_Means - *_lMeans_avg) ./ *_Means_avg;
   
   

4. 找到avg，std最大点的位置，即为单通道缺陷最严重的点；再根据format格式找到所在bayer格式中具体位置。

总结

1. 在计算行列均值时，可以对进行边界处理，采用中值替换。
2. 计算差异时，定义一个threshold,超过此值为hotPixcel，可寻找出hotPixcel行列数量及位置。